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SN74BCT8374ADWR

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Numero de parte
SN74BCT8374ADWR
Fabricante
Texas Instruments
Descripción
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Estado sin plomo / estado RoHS
Sin plomo / Cumple con RoHS
Ficha de datos
SN74BCT8374ADWR.pdf
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Numero de parte
SN74BCT8374ADWR
Fabricante
Texas Instruments
Descripción
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Estado de la pieza
Obsolete
Tipo logico
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Voltaje de alimentación
4.5V ~ 5.5V
Número de bits
8
Temperatura de funcionamiento
0°C ~ 70°C
Tipo de montaje
Surface Mount
Paquete / Caja
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete del dispositivo del proveedor
24-SOIC

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