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SN74ABT8952DW

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Numero de parte
SN74ABT8952DW
Fabricante
Texas Instruments
Descripción
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Estado sin plomo / estado RoHS
Sin plomo / Cumple con RoHS
Ficha de datos
SN74ABT8952DW.pdf
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Numero de parte
SN74ABT8952DW
Fabricante
Texas Instruments
Descripción
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Estado de la pieza
Obsolete
Tipo logico
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Voltaje de alimentación
4.5V ~ 5.5V
Número de bits
8
Temperatura de funcionamiento
-40°C ~ 85°C
Tipo de montaje
Surface Mount
Paquete / Caja
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete del dispositivo del proveedor
28-SOIC

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